設備特征:
1.自(zi)主研發檢測(ce)算法,自(zi)主研發成像機構。
2.適合手機(ji)屏(ping)、工業(ye)屏(ping)。
3.可檢測粒子壓(ya)痕的大小數量、異物、劃(hua)傷、腐蝕(shi)、IC崩(beng)等缺陷。
4. LCD尺寸(cun):1.44-7寸(cun)
設備詳情: